三坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)專(zhuān)業(yè)術(shù)語(yǔ)中英文對(duì)照（一）

A/D轉(zhuǎn)換

A/D Converter

阿貝誤差

Abbe Error

驗(yàn)收檢測(cè)

Acceptance Test ( Of A CMM)

實(shí)際接觸點(diǎn)

Actual Contact Point

氣動(dòng)平衡

Air (Pneumatic) Counter Balance

空氣軸承

Air Bearing

找正、建坐標(biāo)系

Alignment

萬(wàn)向探測(cè)系統(tǒng)

Articulated Probing System

萬(wàn)向探測(cè)系統(tǒng)形狀誤差

Articulated Probing System Form Error

萬(wàn)向探測(cè)系統(tǒng)位置誤差

Articulated Probing System Location Error

萬(wàn)向探測(cè)系統(tǒng)尺寸誤差

Articulated Probing System Size Error

自動(dòng)更換裝置

Autochanger

軸向四軸誤差

Axial Four-Axis Error

返回距離

Back Off Distance

滾珠絲杠

Ballscrew

較佳擬合

Best-Fit Process

笛卡爾直角坐標(biāo)系

Cartesian System

合格證

Certification

數(shù)控測(cè)量機(jī)

CNC CMM

熱膨脹系數(shù)

Coefficient Of Thermal Expansion

柱式坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

Column CMM

比較儀

Comparator

壓縮空氣

Compressed Air

計(jì)算機(jī)輔助精度改進(jìn)

Computer Aided Accuracy

計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)

Computer-Aided Design (CAD)

接觸式探測(cè)系統(tǒng)

Contacting Probing System

連續(xù)軌跡控制

Continuous Path Control

轉(zhuǎn)換規(guī)則

Conversion Rule

轉(zhuǎn)換檢測(cè)參數(shù)

Converted Test Parameter Values

坐標(biāo)測(cè)量

Coordinate Measurement

坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

Coordinate Measuring Machine(CMM)

修正測(cè)量點(diǎn)

Corrected Measured Point

修正掃描線(xiàn)

Corrected Scan Line

修正掃描點(diǎn)

Corrected Scan Point

平衡機(jī)構(gòu)

Counter Balance

對(duì)角線(xiàn)

Diagonal Line

百分表、千分表

Dial Indicator

尺寸

Dimension

尺寸測(cè)量用接口標(biāo)準(zhǔn)

Dimensional Measuring Interface Standard(DMIS)

直接CAD 接口

Direct CAD Interface (DCI)

直接CAD 翻譯

Direct CAD Translation (DCT)

離散點(diǎn)探測(cè)

Discreted-Point Probing

離散點(diǎn)探測(cè)速度

Discreted-Point Probing Speed

漂移

Drift

動(dòng)態(tài)作用

Dynamic Effect

誤差修正圖

Error Mapping

三坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)專(zhuān)業(yè)術(shù)語(yǔ)中英文對(duì)照（二）

坐標(biāo)測(cè)量機(jī)尺寸測(cè)量的示值誤差

Error Of Indication Of A CMM For Size Measurement

數(shù)據(jù)集的范圍

Extent(Of A Data Set)

元素構(gòu)造

Feature Construction

過(guò)濾系統(tǒng)

Filtration System

有限元分析

Finite Element Analysis(FEA)

固定橋式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

Fixed Bridge CMM

固定測(cè)頭座

Fixed Head

固定多探針探測(cè)系統(tǒng)形狀誤差

Fixed Multiple-Stylus Probing System Form Error

固定多探針探測(cè)系統(tǒng)位置誤差

Fixed Multiple-Stylus Probing System Location Error

固定多探針探測(cè)系統(tǒng)尺寸誤差

Fixed Multiple-Stylus Probing System Size Error

固定工作臺(tái)懸臂式坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

Fixed Table Cantilever CMM

固定工作臺(tái)水平懸臂坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

Fixed Table Horizontal-Arm CMM

形狀

Form

摩擦桿

Friction Bar

摩擦桿傳動(dòng)

Friction Driver(Capstan Or Traction)

龍門(mén)式坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

Gantry CMM

量塊

Gauge Block

高斯輔助要素

Gaussian Associated Feature

高斯徑向距離

Gaussian Radial Distance

產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范

GPS (Geometrical Product Specifications)

斜齒輪

Helical Gear

（坐標(biāo)測(cè)量機(jī)）的高點(diǎn)密度

High Point Density(Of A CMM)

濕度

Humidity

滯后

Hysteresis

指示測(cè)量點(diǎn)

Indicated Measured Point

紅外的

Infrared

（坐標(biāo)測(cè)量機(jī)）的中間檢查

Interim Check(Of A CMM)

中間檢查

Interim Testing

中間點(diǎn)

Interim Point

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)組織

International Organization For Standardization (ISO)

激光干涉儀

Laser Interferometer

激光掃描測(cè)頭

Laser Scanning Probe

絲杠

Leadscrew

自學(xué)習(xí)編程

Learn Programming

小二乘

Least Square

小二乘輔助要素

Least-Squares Associated Feature

長(zhǎng)度標(biāo)準(zhǔn)

Length Standard

位置精度

Linear Displacement Accuracy

位置

Location

（坐標(biāo)測(cè)量機(jī)）的低點(diǎn)密度

Low Point Density(Of A CMM)

L型橋式坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

L-Shaped Bridge CMM

機(jī)器坐標(biāo)系統(tǒng)

Machine Coordinate System

磁柵尺

Magnetic Scale

手動(dòng)測(cè)量機(jī)

Manual CMM

手動(dòng)測(cè)頭座

Manual Head

實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)器

Material Standard

尺寸實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)器

Material Standard Of Size

三坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)專(zhuān)業(yè)術(shù)語(yǔ)中英文對(duì)照（三）

內(nèi)切圓

Maximum Inscribed Circle

坐標(biāo)測(cè)量機(jī)尺寸測(cè)量的允許示值誤差

Maximum Permissible Error Of Indication  Of A CMM For Size Measurement

允許固定多探針探測(cè)系統(tǒng)形狀誤差

Maximum Permissible Fixed  Multiple-Stylus Probing System Form Error

允許固定多探針探測(cè)系統(tǒng)位置誤差

Maximum Permissible Fixed  Multiple-Stylus Probing System Location Error

允許固定多探針探測(cè)系統(tǒng)尺寸誤差

Maximum Permissible Fixed  Multiple-Stylus Probing System Size Error

允許探測(cè)誤差

Maximum Permissible Probing Error

允許萬(wàn)向探測(cè)系統(tǒng)形狀誤差

Maximum Permissible Articulated  Probing System Form Error

允許萬(wàn)向探測(cè)系統(tǒng)位置誤差

Maximum Permissible Articulated  Probing System Location Error

允許萬(wàn)向探測(cè)系統(tǒng)尺寸誤差

Maximum Permissible Articulated  Probing System Size Error

允許軸向四軸誤差

Maximum Permissible Axial Four  Axis Error

允許徑向四軸誤差

Maximum Permissible Radial Four  Axis Error

允許掃描探測(cè)誤差

Maximum Permissible Scanning  Probing Error

允許切向四軸誤差

Maximum Permissible Tangential  Four Axis Error

允許掃描檢測(cè)時(shí)間

Maximum Permissible Time For  Scanning Test

平均失效時(shí)間

Mean Time Between Failure (MTBF)

平均修復(fù)時(shí)間

Mean Time For Repair (MTFR)

測(cè)量空間

Measuring Volume

千分尺

Micrometer

微型應(yīng)變片

Micro-Strain Gage

外接圓

Minimum Circumscribed Circle

機(jī)動(dòng)測(cè)量機(jī)

Motorized CMM

機(jī)（自）動(dòng)測(cè)頭座

Motorized Head

移動(dòng)橋式坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

Moving Bridge CMM

水平懸臂移動(dòng)式坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

Moving Ram Horizontal-Arm CMM

移動(dòng)工作臺(tái)懸臂式坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

Moving Table Cantilever CMM

移動(dòng)工作臺(tái)水平懸臂坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

Moving Table Horizontal-Arm CMM

多探針

Multiple Styli

多探針

Multiple Stylus

多測(cè)頭系統(tǒng)

Multi-Probe System

多級(jí)減速器

Multi-Stage Speed Reducer

（美國(guó)）國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)及技術(shù)研究院

National Institute Of Standard  And Technology(NIST)

非直角坐標(biāo)系

Non-Cartesian System

非接觸式探測(cè)系統(tǒng)

Non-Contacting Probing System

不均辦溫度場(chǎng)

Non-Uniform Temperatures

非預(yù)定路徑掃描

Not Pre-Defined Path Scanning

脫機(jī)編程

Off-Line Programming

光學(xué)測(cè)頭

Optical Probe

光學(xué)探測(cè)系統(tǒng)

Optical Probing System

光柵尺

Optical Scale

方向

Orientation

要素參數(shù)化

Parameterization Of A Feature

零件坐標(biāo)系

Part Coordinate System

零件工夾具

Part Handing

三坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)專(zhuān)業(yè)術(shù)語(yǔ)中英文對(duì)照（四）

零件編程

Part Programming

壓電測(cè)頭

Piezo Sensor

俯仰角擺

Pitch

預(yù)定路徑掃描

Pre-Defined Path Scanning

（測(cè)頭）預(yù)行程

Pretravel

三坐標(biāo)測(cè)頭

Probe

測(cè)頭校驗(yàn)

Probe Calibration

測(cè)頭座（測(cè)頭）座

Probe Head

測(cè)頭的三角形效應(yīng)

Probe Lobbing

探測(cè)誤差

Probing Error

探測(cè)系統(tǒng)

Probing System

探測(cè)系統(tǒng)的標(biāo)定

Probing System Qualification

探測(cè)

Probing(to probe)

程序點(diǎn)

Program Point

可編程夾具

Programmable Fixture

齒輪齒條

Rack-And-Pinion

徑向四軸誤差

Radial Four Axis Error

探測(cè)軸

Ram

范圍

Range

（光柵）讀數(shù)頭

Read Head

標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)

Reference Data Set

標(biāo)準(zhǔn)付

Reference Pair

標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)值

Reference Parameter Value

標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)化

Reference Parameterization

標(biāo)準(zhǔn)殘差

Reference Residual

標(biāo)準(zhǔn)軟件

Reference Software

標(biāo)準(zhǔn)球

Reference Sphere

反射式光柵

Reflection Scale

可靠性

Reliability

重復(fù)性

Repeatability

殘差

Residual

諧振

Resonance

（坐標(biāo)測(cè)量機(jī)）的復(fù)檢檢測(cè)

Reverification Test(Of A CMM)

逆向工程

Reverse Engineering

自轉(zhuǎn)

Roll

轉(zhuǎn)臺(tái)

Rotary Table

轉(zhuǎn)臺(tái)設(shè)置

Rotary Table Setup

采點(diǎn)策略

Sampling Strategy

掃描順序

Scan Sequence

掃描

Scanning

掃描測(cè)頭

Scanning Probe

掃描探測(cè)誤差

Scanning Probing Error

掃描速度

Scanning Speed

敏感系數(shù)

Sensitivity Coefficient

伺服電機(jī)

Servo Motor

薄壁件特征測(cè)量

Sheet Metal Feature Measurement

尺寸

Size